5G毫米波利用陣列天線形成波束來進行通訊, 陣列天線設計的好壞與性能, 直接影響通訊的品質, 包括天線的增益大小, 與所需天線單元的數目, 另外也可能造成側波束對別人的干擾等.
特別是天線陣列增益, 毫米波主要靠陣列設計來將能量集中, 形成波束, 若因陣列天線設計不良或是個別波束成形晶片的不良或差異造成增益不足, 將造成覆蓋範圍變小, 若仍希望維持相同的覆蓋範圍, 會需要增加天線單元數目, 這將近一步使得散熱問題更加困難.
因此如何透過5G毫米波陣列天線的量測, 確認陣列天線是否與設計一致, 是5G毫米波進行非信令測試前須先確保的.
毫米波陣列天線波束量測有3種方式:1.遠場量測, 2. 縮距量測系統(Compact Antenna Test Range, CATR), 3. 近場量測.
遠場與近場的區別, 大致是2*D^2/lamda為界線, D是天線孔徑大小, lamda是波長.
遠場量測需要較大的暗室, 同時須要機械手臂做3D球形掃描, 縮距量測的原理與遠場量測類似, 只是透過反射器做反射, 以縮短待測物至量測天線的距離.
這兩種測試方式共同的問題都是暗室占較大空間, 且通常需要根據空間大小訂製, 造價昂貴. 機械手臂或反射器同樣造價昂貴, 且旋轉移動所耗時間長, 使得測試時間以小時計. 另一個共同的問題則是這樣的架構不容易應用於產線快速且多條產線建置的測試.
円通科技所設計的產品為近場量測方案, 提供暗室與軟硬體整合之完整方案, 不僅波束量測精準快速, 價格平易近人, 且不佔空間, 量測一8x8陣列天線只需不到5分鐘. 加上專為產線設計的暗室與待測物擺置設計, 特別適用於產線測試!!
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